漂移的原因是什么？

所有OES仪々器对环境因素非常敏感，这些因素会随着时间的推移影响其读数的准确性。气压和温度的波动是造◤成这种漂移的主要原因。仪器在其运行环境中位置■引起的震动是常见原因，尽管日立机器的设计是ㄨ为了消除这一点。

和环境因素一样，部件老化、光学平面受污染或吹扫气体或真空度的变化←都会误导分析结果。如果您的质量〇依赖于产品的确切化学成分，这些影响因素可能是一个大问题。

重新校准变得简单

在持续使№用一段时间后→，重新校准会使火花直读光谱仪恢复到最卐佳性能。但漂移并未得到解↓决，这会导※致读数不准确▲。这其中的困难是，并无迹象表明出了什么问↑题。

OES随时可以使用『监控样品。理想情况下，这些样品应尽可能接近您实际使用的工艺◥材料。

火花直读光谱仪可以执行这些操作，从而消除以一定时间间隔重新校准的需要。过去，重新校准只是按预定间隔进行。事实上，一些公∮司目前仍然这样做。这意味着OES性能可能会在未探测到的情况下大幅漂移。使用高质⊙量的仪器体检记录可以跟踪你的OES的健康状ㄨ况。除此之外，使用监控样品还可以验证仪器是否能够用于审核。

日立分析仪器解决方案

对于试图解决漂移◥的OES生产商来说，他们只有两种选【择。OES生产商可以在操作环境温度和压力不变的情况下进行分析。问题是这两种方法都意味着更高的运行成本。

日立分析仪器↓的OES光谱仪不需要操』作者拥有昂贵的材料或高的运行成本。我们设计的仪器〖比竞争对手更高效、更经济、更智能。

我们＠ 光学系统的总波长范围为130至800nm，这使得操作员很容易发现最初漂移的信号并纠正问题。因此，在每次分析期间，我们▽可自动监控和校正所有相关通道的光谱位置。只要OES本身得到良好︻维护，漂移就不会导致成本飙升。

日立分析拥有超过45年的金属行业经验，能够充分利用分析仪。我们的团队可以确△保您的OES光谱仪继续以其设计的水平工作，并长期为您▂的操作增加价值。

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